ES660 ESD and Latch-UP Test System
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The ES660 series ESD and LU Test system is a state-of-the-art, multi-pin automated testing equipment designed to meet the rigorous demands of modern semiconductor testing.
Introduction
The ES660 series ESD and LU Test system is a state-of-the-art, multi-pin automated testing equipment designed to meet the rigorous demands of modern semiconductor testing. This versatile device is engineered to seamlessly support the Human Body Model (HBM), Machine Model (MM), and Latch-Up testing, offering a comprehensive solution for assessing the reliability and robustness of integrated circuits (ICs) and electronic components.
With the capability to support up to 1024 pins, the ES660-P1 is ideal for testing complex ICs and electronic components with a multitude of connections. Its high pin count capacity ensures that one can evaluate large-scale devices with precision and efficiency, reducing testing time and enhancing productivity.
For higher pin count, model ES660-P2 (up to 2048 pins) is on the development roadmap.
Features
- Compatibility with Multiple Testing Methods & Standards
- Highly Flexible Bias and Pin Count Configuration Capability
- Automated Testing Efficiency
- Advanced Control and Monitoring
- Leakage & DC Sweep
- Data Analysis
Applications
- Semiconductor device ESD testing
- HBM module meets ANSI/ESDA/JEDEC JS-001, MIL-STD-883E, AEC Q100-002
- MM module meets ANSI/ESDA SP5.2
- Latch-up meets JEDEC JESD78
- Transient Latch-up pending for ANSI/ESD SP5.4.1
Specifications
ES660-P1 Base Unit
HBM Human Body Model Option
(ANSI/ESDA/JEDEC JS-001)
MM Machine Model Option
(ANSI/ESD SP5.2)
LU Latch-Up Option
(JEDEC JESD78F.01)
TLU Transient Latch-Up Option
(ANSI/ESD SP5.4.1)
[Specifications pending finalization]
Scheduled Hardware-support for Latch-Up Transient Pulse Source:
ES622 (TLP/ VF-TLP), EOS-500 (EOS), LVS-500 (LVS), MM
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